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| 半導體儲存高低溫測試高溫老化箱 |
| 半導體儲存高低溫測試高溫老化箱用服務器通過控制軟件和局域網通訊對高溫設備,測試機,計時器和預警器做控制;通過編輯產出報告格式,自動回填各測試項目數據,通過對測試數據做邏輯判斷,自動判斷結果是PASS或是NG.本發明測試過程不僅達到了測試的要求,而且節省了研發測試時間,整個測試時間易于合理安排,無需人工值守測試,提高了開發人員的工作效率,減少了人力的投入,且減少了人工判斷測試結果帶來的誤差。 |
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一、半導體儲存高低溫測試高溫老化箱概述：
通過控制軟件和局域網通訊對高溫設備,測試機,計時器和預警器做控制;通過編輯產出報告格式,自動回填各測試項目數據,通過對測試數據做邏輯判斷,自動判斷結果是PASS或是NG.本發明測試過程不僅達到了測試的要求,而且節省了研發測試時間,整個測試時間易于合理安排,無需人工值守測試,提高了開發人員的工作效率,減少了人力的投入,且減少了人工判斷測試結果帶來的誤差。
               
二、半導體儲存高低溫測試高溫老化箱技術指標： 具體參數 | 型號 | LK -012G | LK -015G | LK -020G | LK -030G | H:0℃~+150℃ C:-20℃~+150℃ L:-40℃~+150℃ U:-60℃~+150℃ J:-70℃~+150℃ | 測試室尺寸LxDxHcm | 100x100x120 | 100x100x150 | 120x120x150 | 150x120x150 | 外形尺寸 LxDxHcm | 125x194x210 | 125x250x203 | 145x225x203 | 175x 225x203 | 溫度范圍 | -40℃~+150℃ | 濕度范圍 | 20%-98%RH | 解析精度 | 溫度: 0.01℃:濕度: 0.1%RH | 溫濕度偏差 | 溫度: ±1.0℃; 濕度: ±2.5%RH | 升溫時間 | +20℃~150℃約30 min | 降溫時間 | +20℃~-20C℃≤30min | +20℃~-40℃≤55min | +20℃~-70C ≤75min | 材質 | 外箱:防銹處理冷軋鋼板烤漆 內箱: SUS≠304或SUS ≠316不銹鋼板 | 絕緣材料 | 硬質聚氨酯泡沫料(帶阻燃劑) | 制冷方式 | 進口泰康壓縮機+鰭片式全銅蒸發器+風冷式冷凝器 | 制冷劑 | 美國杜邦HFC系列環保制冷劑: R404A、 R23 | 壓縮機泠量 | 3.0P*2臺 | 3.0P*2臺 | 3.0P*2臺 | 4.0P*2臺 | 控制器 | 進口TEMI系列7"觸摸式溫濕度儀表 | 電器元件 | 法國施耐德工控產品、瑞士佳樂、中國臺灣陽明等電器元件 | 加熱、加濕 | 鎳鉻合金加熱管、SUS316制護套式加濕管 | 循環風機 | 長軸電機+不銹鋼風輪 | 故障報警 | 壓縮機過流、超壓、過熱、缺水、加熱器無風空焚、加濕器無水干燒、漏電保護、超溫保護、欠相、室內超溫 | 水質 | 純凈水或去離子 | 電源 | 380V AC3Φ4W 50/60Hz | 大電流（A） | AC380V | 23A | 25A | 28A | 30A | 其它配件 | 樣品架2塊，引線孔硅膠塞1個，鋼化除霧玻璃1塊 |
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